Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500

Главная > Продукция > Анализаторы химического состава металлов > Оптико-эмиссионные спектрометры > Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500

LEA-S500 – современный мощный атомно-эмиссионный спектральный прибор с многоканальной регистрацией спектра, объединяющий инновационные технологии в области лазерной, спектральной, измерительной, цифровой техники и программного обеспечения, позволяющий определить элементный (оксидный) состав пробы за считанные минуты.

Определяемые элементы от H до U, диапазон измерения от 0.01 ррм до 100 %. Масса вещества необходимого для анализа – от 50 нанограмм. Время выполнения многоэлементного анализа с учетом времени пробоподготовки 1-15 минут. Время выполнения 400 анализов по определению однородности материала около 7 минут.

Интуитивно понятное программное обеспечение ATILLA 2 гарантирует полноценное использование прибора с первого дня эксплуатации.

Для освоения базовых функций требуется несколько часов и минимум специальных знаний.

Двухимпульсный наносекундный лазерный источник возбуждения спектров, благодаря высокой энергетической, пространственной и временной стабильности, обеспечивает максимальную воспроизводимость результатов анализа и низкие пределы обнаружения химических элементов и соединений. Реализуются как дуговой, так и искровой режимы возбуждения спектров.

Оригинальный светосильный безабберационный спектрограф с высоким спектральным разрешением обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения.

Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов позволяет достичь рекордно низких пределов обнаружения элементов и линейности концентрационных зависимостей в широком диапазоне, гарантирует точные и достоверные измерения.

Программное обеспечение и документация на русском языке.

LEA-S500 обеспечивается сервисной и методической поддержкой в Украине.

Преимущества

Правильность и высокая прецизионность определения элементов и их соединений (оксидов) в пробах
Низкий предел обнаружения элементов (от 0.01 ppm до 1 ppb)
Анализ состава любых как токопроводящих, так и нетокопроводящих твердых (монолитных и порошковых) проб
Применение в методических разработках аналитических линий с наилучшей концентрационной чувствительностью, свободных от взаимных спектральных наложений
Максимальную эффективность использования аналитического светового сигнала
Удобство и полную безопасность при работе и обслуживании прибора
Защиту персонала от воздействия вредных факторов
Экспрессный многоэлементный анализ
Полный анализ химического состава за одно измерение
Не требуется изменение агрегатного состояния проб
Анализ проб в заданных точках (областях) поверхности с помощью систем позиционирования и видеонаблюдения
Послойный анализ покрытий, пленок, налетов, коррозий
Анализ состава включений, пороков, дефектов
Анализ распределения элементов в пробе с шагом от 30 мкм. Построение карт распределения элементов по поверхности и глубине
Не требуются особо чистые реактивы для пробоподготовки
Не требуются дорогостоящие расходные материалы
Не требуется инертный газ для решения большинства задач
Осуществляется очистка загрязненных поверхностей проб предварительными импульсами лазера
Универсальность: прибор не требует переналадки или модернизации для решения всех перечисленных задач
Анализ токопроводящих и токонепроводящих материалов
Анализ проволоки любого диаметра, шариков, цилиндрических деталей без дополнительной обработки с помощью адаптеров (включены в комплект поставки)
Удобство и абсолютная безопасность работы и технического обслуживания
Полная защита персонала от воздействия вредных факторов

Области применения

Анализатор применяется для качественного, полуколичественного и количественного анализа элементного состава сырья, компонентов, добавок, примесей, включений и т.д. на всех стадиях производства, а также для контроля готовых изделий на заводах, в лабораториях и научных исследованиях.

Определяемые элементы от H до U, диапазон измерения от 0.01 ррм до 100 %.